TEK370A+TEK370A-晶体管测试仪Tektronix370A

TEK370A+TEK370A-晶体管测试仪Tektronix370A 


名称：泰克Tektronix 370B 晶体管测试仪


主要参数:


半导体器件高精度测量


-上限达2000V或电流到10A的源（370A/B）


-上限到3000V（371A）


-上限到220W（370A/B）


-上限到400A（371A）


-1nA的测量分辨率


-上限到3000W（371A）


-上限到2mV的测量分辨率（370A/B）


-波形对比


-包络显示


-波形平均


-点光标（370A）


-Kelvin传感测量


-全程控


-MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用


交互式程


-所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作参数，包括370A的非易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。


测试夹具


-测试夹具是标准附件，它提供被测器件安全防护，以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001，中间通过Kelvin传感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。


程控特性曲线图示仪


-*的高分辨率特性曲线图示仪，可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。


-在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作。


应用


-手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量


-来料检查


-生产测试


-过程监视及质量控制


-数据报告的生成


-元件配对


-失效分析


-工程测试


备注：
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